Scanning electron microscope + EDX (in charge : Gérard MEILLE)

EFTEM LEO (in charge : Béatrice VACHER)

Optical microscopes and binocular (in charge : Gérard MEILLE)

AFM 1 (in charge : Jean-Luc LOUBET)

AFM 2 (electrical measures) (in charge : Christelle GUERRET / Jean-Luc LOUBET)

WYCO interferometer (in charge : Hassan ZAHOUANI)

WYCO NT9300 interferometer (in charge :Siegfried FOUVRY)

Confocal roughness meter (in charge : Hassan ZAHOUANI)

Fringe projection roughness meter (in charge : Hassan ZAHOUANI)

Tactile roughness meter (in charge : Hassan ZAHOUANI)

X-ray diffraction under grazing incidence and reflection tool (in charge : Bernard BEAUGIRAUD)

Infrared spectrometer by Fourier transform (in charge : Bernard BEAUGIRAUD)

PHILIPS XL 20 scanning electron microscope (in charge : Bernard BEAUGIRAUD)

Residual stress measurement tool through X-ray diffraction (in charge : Stéphane VALETTE)

Space charge electron microscope (in charge : Denyse JUVE)

Taylor Hobson talysurf 10 2D profilometer (in charge : Michel DURSAPT )

Somicronic S2 3D surface state measurer (in charge : Michel DURSAPT)

Eclipse L 150 interferometric microsope (in charge : Michel DURSAPT)

Magnifying binocular with numeric image analysis (in charge : Joël RECH)

MAHR 2D roughness meter (in charge : Joël RECH)