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- 18 novembre 2011
Microscope Electronique à Balayage + EDX (responsable : Béatrice VACHER
EFTEM LEO (responsable : Béatrice VACHER)
Microscopes optiques et binoculaire (responsable : Thomas MALHOMME)
Microscope numérique KEYENCE (responsable : Julien FONTAINE / Thomas MALHOMME)
AFM 1 (responsable : Jean-Luc LOUBET)
AFM 2 (mesures électriques) (responsable : Jean-Luc LOUBET)
Interféromètre WYCO (responsable : Hassan ZAHOUANI)
Interféromètre WYCO NT9300 (responsable :Siegfried FOUVRY)
Rugosimètre confocal (responsable : Hassan ZAHOUANI)
Rugosimètre projection de franges (responsable : Hassan ZAHOUANI)
Rugosimètre tactile (responsable : Hassan ZAHOUANI)
Appareil de diffraction X en incidence rasante et réflectivité (responsable : Bernard BEAUGIRAUD)
Spectromètre infrarouge par transformée de Fourier (responsable : Bernard BEAUGIRAUD)
Microscope électronique à balayage PHILIPS XL 20 (responsable : Bernard BEAUGIRAUD)
Appareil de mesure de contraintes résiduelles par diffraction X (responsable : Stéphane VALETTE)
Microscope électronique à charge d’espace (responsable : Franck DAHLEM)
Profilomètre 2D talysurf 10 de Taylor Hobson (responsable : Michel DURSAPT )
Mesureur d’état de surface 3D S2 de Somicronic (responsable : Michel DURSAPT)
Microscope interférométrique Eclipse L 150 (responsable : Michel DURSAPT)
Loupe binoculaire avec analyse numérique d’image (responsable : Joël RECH)
Rugosimètre 2D MAHR (responsable : Joël RECH)